Mikroskopie atomárních sil
Mikroskopie atomárních sil, z anglického Atomic Force Microscopy, zkr. AFM, je technikou, kterou můžeme dosáhnout trojrozměrného zobrazení povrchu zkoumaných předmětů a látek na atomární úrovni. Historie této techniky sahá až do 80. let minulého století, kdy...