Diagnostický test logického obvodu, diagnostické programy osobních počítačů
Nejdřív si musíme něco vyjasnit ……třeba základní pojmy…
Diagnostika- schopnost rozeznat problém a navrhnout řešení; zjištění technického stavu obvodu.
Detekční test- tento test pozná, jestli zařízení funguje, nebo ne.
Lokalizační test- tento test by měl pracovníka navést na poruchové místo.
Diagnostický test logického obvodu spočívá v tom, že na vstup obvodu se přivede vstupní Byte(nebo víc) a ví se, co by se mělo objevit na výstupu. Vstup je tedy porovnáván s výstupem. Ke každé kombinaci vstupů patří nějaká odezva na výstupu. Test je tedy tvořen množinou dvojic vzájemě přiřazených kombinací. Podle chyb na výstupu je program schopnej odhalit zdroj chyby. Test probíhá po krocích, kdy se na vstup cpou různý kombinace bitů. Počet těchto kroků určuje délku testu.
Testy dělíme na:
Nezávislé- Všechny kroky testu proběhnou v předem určeném pořadí a žádný krok nezávisí na kroku předchozím. Tento test se hodí na detekci, jestli je zažízení poškozený, ale zdroj chyby neodhalí.
Závislé- Každej krok závisí na kroku předchozím. Jakmile se objeví chyba, test se zaměří na poškozené místo a lokalizuje poruchu. Logicky se tedy hodí pro lokalizaci.
Dynamické- Dynamické testy uměj vyhodnotit časový průběhy; prozkoušej obvod za chodu. Test je náročnější.
Statické- Statický test sleduje objekt v ustáleném stavu.
- protože statické a dynamické testy mají své výhody a nevýhody, provádí se test tak, že se jednotlivé části obvodu odzkoušej dynamicky a po spojení se odzkoušej staticky.
Sestavení diagnostického testu:
- intuitivní- vytvořeno člověkem-> zbytečné možnosti se netestujou.
- Systematický- vytvořen programem-> testuje všechny možnosti. Je delší, než intuitivní.
-Nejčastější druh poruchy je trvalá nula (T0), nebo jednička. Tzn., že drát je někde uzeměn, nebo trvale připojen na zdroj napětí odpovídající logické hodnotě 0 nebo 1.
Závěr:
Testovatelnost je důležitá vlastnost obvodu. Bohužel je často v rozporu s minimalizací a tedy i s jednoduchostí a následně i nízkou cenou obvodu. Čím víc se obvod minimalizuje, tím hůř se testuje. Je tedy nutné najít vhodný kompromis.